[发明专利]用于鉴定标记的方法、设备以及安全系统有效
| 申请号： | 01809535.6 | 申请日： | 2001-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN1429379A | 公开（公告）日： | 2003-07-09 |
| 发明（设计）人： | E·米勒;P·埃格尔;M·塞托 | 申请（专利权）人： | 西柏控股有限公司 |
| 主分类号： | G06K19/14 | 分类号： | G06K19/14;G07D7/12 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 王岳,张志醒 |
| 地址： | 暂无信息 | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于鉴定标记(M－P)的方法、设备和安全系统，包括步骤：利用至少一个激发源(3、31至36)的至少一个激发脉冲(P)激发所述发光试样标记(M－P)；根据所述至少一个激发脉冲(P)，以时间间隔(t1至tn)测量所述发光试样标记(M－P)的发射辐射(E)发出的发射强度(I)的试样强度值(VP1至VPn)；产生所述试样强度值(VP1至VPn)的试样强度时间发射函数；将所述试样强度时间发射函数与至少一个基准强度时间发射函数进行比较；在进行比较之前，对所述试样强度时间发射函数和所述基准强度时间发射函数进行归一化处理。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 鉴定 标记 方法 设备 以及 安全 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于鉴定发光试样标记(M-P)的方法，包括步骤：利用至少一个激发源(3、31至36)的至少一个激发脉冲(P)激发所述发光试样标记(M-P)，根据所述至少一个激发脉冲(P)，以时间间隔(t1至tn)测量所述发光试样标记(M-P)的发射辐射(E)发出的发射强度(I)的试样强度值(VP1至VPn)，产生所述试样强度值(VP1至VPn)的试样强度时间发射函数，将所述试样强度时间发射函数与至少一个基准强度时间发射函数进行比较，在进行比较之前，对所述试样强度时间发射函数和所述基准强度时间发射函数进行归一化处理。
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