[发明专利]辐射检测设备和方法无效
| 申请号： | 01810704.4 | 申请日： | 2001-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN1433520A | 公开（公告）日： | 2003-07-30 |
| 发明（设计）人： | T·弗兰克;V·佩斯科夫 | 申请（专利权）人： | 爱克斯康特公司 |
| 主分类号： | G01T1/28 | 分类号： | G01T1/28;H01J43/02 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 栾本生,张志醒 |
| 地址： | 暂无信息 | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种检测辐射的设备(9)，包括一个光阴极(18)，被适配成依据入射的辐射释放光电子；一个辐射入口(33)，被安排成使辐射射束可通过所述的辐射入口进入设备并以掠射角撞击在所述的光阴极上；一个电子雪崩放大器(21，27，29，53)，被适配成将从所述的光阴极释放的光电子雪崩放大；和一个读出部件(27，29)，被适配成检测从所述的放大器来的被雪崩放大的电子。本发明还涉及一种相应的检测离子化辐射的方法，和一种在包括检测器设备的平面射束射线成像术中使用的方案。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射 检测 设备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种检测辐射的设备(9)包括：-光阴极(18)，具有第一表面并被适配成依据入射的辐射释放光电子；-辐射入口(33)，被安排成这样，使得辐射的射束(1)可以通过所述的辐射入口进入设备并可以掠射角撞击在所述的光阴极上；-电子雪崩放大器(21，27，29，53)，面对所述的光阴极的第一表面并被适配成雪崩放大从所述的光阴极释放的光电子；和-读出部件(27，29)，被适配成检测来自所述的放大器的被雪崩放大的电子，其特征在于-所述的辐射入口被安排成这样，使得辐射的射束可以进入所述的光阴极和所述的电子雪崩放大器之间的设备并可以撞击在所述的光阴极的第一表面上；和-所述的光阴极被适配成对此作出响应从它的第一表面释放光电子。
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