[发明专利]用于样品松密度的γ射线的确定方法与装置有效
| 申请号： | 01811949.2 | 申请日： | 2001-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN1439097A | 公开（公告）日： | 2003-08-27 |
| 发明（设计）人： | W·L·德普;罗伯特·E·特罗克斯勒 | 申请（专利权）人： | 特罗克斯勒电子实验有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/10 | 分类号： | G01N23/10 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 郑修哲 |
| 地址： | 美国北卡*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种核的松密度测量装置和测试方法用于测量松密度，特别是圆柱形样品诸如沥青铺路材料的松密度。该测量装置包括基座；由基座支承的并具有表面构形以接纳并夹持圆柱形样品的通常的第一平面端的样品夹持器；靠近所述样品夹持器安装的平板以及处在样品夹持器附近的所述板中的至少三个γ放射源。该三个放射源彼此相互隔开放置以便从至少三个隔开的位置向所述样品的一端发射γ射线。三个放射源的每一个包括一个具有特征的一次电子能量的同位素。探测器安装在基座上并放置在圆柱形样品的相对的一端以便接受已经射入样品的γ射线。与探测器结合设置一装置以便在由探测器计数的γ射线的基础上计算样品的松密度。最好探测器包括闪烁探测器，同时计算样品松密度的装置包括一个与闪烁探测器连接的以便在预定的能谱中探测γ射线的分析器，该能谱最好处于0.1兆电子伏特到2兆电子伏特的范围以内。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 样品 密度 射线 确定 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种测量样品松密度的装置，包括：多个彼此相互隔开放置的γ射线源，用于从许多隔开的位置发射γ射线到放在附近的样品中；一个探测器，安装成用于接受已经深入样品的γ射线；以及与所述探测器结合的装置以便在由所述探测器计数的γ射线的基础上计算样品的松密度值。
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