[发明专利]测量输送带上准备热处理的料层的表面高度的方法有效
| 申请号： | 01814682.1 | 申请日： | 2001-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN1449487A | 公开（公告）日： | 2003-10-15 |
| 发明（设计）人： | 佩卡·涅梅莱;埃罗·韦内宁;拉伊莫·罗瓦宁;约科·皮蒂马;奥拉维·图尔基 | 申请（专利权）人： | 奥托库姆普联合股份公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/06 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 董敏 |
| 地址： | 暂无信息 | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及在料层由单一类型的易碎球形颗粒组成时，对输送带上准备连续控制热处理即连续控制烧结的料层表面高度进行测量的方法。根据本发明：以至少一个光源(5)在所述输送带(4)的横向方向上照射输送带(4)上形成的料层(3)，从而光束(6)在料层(3)的表面形成一道直的光线段(7)；为了记录所述光线段(7)至少使用一部相机(8)和至少一个与所述相机(8)连接的图象处理装置(9)；为了探测出表面高度的偏差，所述图象处理装置(9)把所获取的表面高度图象与预定的所需表面高度图象相比较；为了纠正表面高度上的偏差，所述图象处理装置(9)与自动装置(10)连接。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 输送 带上 准备 热处理 表面 高度 方法 | ||
【主权项】：
1.一种在料层由单一类型的易碎球形颗粒组成时，对输送带上准备连续控制热处理即连续控制烧结的料层表面高度进行测量的方法。其特征在于：以至少一个光源(5)在所述输送带(4)的横向方向上照射输送带(4)上形成的料层(3)，从而光束(6)在料层(3)的表面形成一道直的光线段(7)；为了记录所述光线段(7)，至少使用一部相机(8)和至少一个与所述相机(8)连接的图象处理装置(9)；为了探测出表面高度的偏差，所述图象处理装置(9)把所获取的表面高度图象与预定的所需表面高度图象相比较；为了纠正表面高度上的偏差，所述图象处理装置(9)与自动装置(10)连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于奥托库姆普联合股份公司，未经奥托库姆普联合股份公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/01814682.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
