[发明专利]侦测集成电路受到非所欲的破坏的电路布置及方法有效
| 申请号： | 01815463.8 | 申请日： | 2001-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN1460203A | 公开（公告）日： | 2003-12-03 |
| 发明（设计）人： | B·加梅尔 | 申请（专利权）人： | 因芬尼昂技术股份公司 |
| 主分类号： | G06F1/00 | 分类号： | G06F1/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 张志醒 |
| 地址： | 暂无信息 | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提出一种用来侦测集成电路是否受到非所欲的破坏的电路布置，此种电路布置具有一个发出时钟脉冲信号的信号线路及至少一组用来将位编码的双引线，而且此信号线路及至少一组双引线系位于集成电路的第一个电路功能块及第二个电路功能块之间。此信号线路及至少一组双引线与一个检波电路连接，此检波电路会依据信号线路及至少一组双引线的信号改变集成电路的作用流程。这个检波电路也可以被用来侦测集成电路的制造错误。 | ||
| 搜索关键词： | 侦测 集成电路 受到 破坏 电路 布置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于侦测集成电路(A，B)是否受到非所欲的破坏的电路布置，此种电路布置具有：-一个发出时钟脉冲信号的信号线路(1)，-至少一组来将位编码的双引线(2，3；4，5)，并且，所述信号线路(1)及所述至少一组双引线(2，3；4，5)位于集成电路的第一个电路功能块(A)及第二个电路功能块(B)之间，此种电路布置的特征在于：所述信号线路(1)及所述至少一组双引线(2，3；4，5)与一个检波电路(11)连接，这个检波电路(11)依据所述信号线路(1)及所述至少一组双引线(2，3；4，5)的信号改变所述集成电路的作用流程。
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