[发明专利]光学信息记录介质及其记录和再现方法无效

专利信息
申请号: 01816626.1 申请日: 2001-09-25
公开(公告)号: CN1466749A 公开(公告)日: 2004-01-07
发明(设计)人: 宇野真由美;山田升 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G11B7/00 分类号: G11B7/00;G11B7/013;G11B7/24
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 曲瑞
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种光学信息记录介质包括第一基片;第二基片;以及在第一基片和第二基片之间形成的记录层。光学信息记录介质包括凸脊和凹槽,照射光学信息记录介质的激光光源和凸脊之间的距离大于光源和凹槽之间的距离。激光光源到凸脊之间的距离和激光光源到凹槽之间的距离之差D处于0<D<λ/(4N)的范围内(N为基片的折射率),其中λ是激光的波长。凹槽以小于或等于0.40μm的间距在光学信息记录介质中形成。
搜索关键词: 光学 信息 记录 介质 及其 再现 方法
【主权项】:
1.一种光学信息记录介质,包括:第一基片;第二基片;以及在第一基片和第二基片之间形成的记录层,其中:光学信息记录介质包括凸脊和凹槽,照射光学信息记录介质的激光光源和凸脊之间的距离大于光源和凹槽之间的距离,激光光源到凸脊之间的距离和激光光源到凹槽之间的距离之差D处于0<D<λ/(4N)的范围内(N为基片的折射率),其中λ是激光的波长,凹槽以小于或等于0.40μm的间距在光学信息记录介质中形成,每个凹槽或者处于具有第一反射率的第一状态,或者处于具有低于第一反射率的第二反射率的第二状态,第一状态和第二状态通过激光的照射可以可逆地转变,以及当以用于再现的激光照射凹槽时,φ1和φ2之间的差φ1-φ2满足2nπ-π<φ1-φ2<2nπ(n是任意整数),其中φ1是由处于第一状态的凹槽的一部分反射的光的相位,φ2是由处于第二状态的凹槽的一部分反射的光的相位。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社,未经松下电器产业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/01816626.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top