[发明专利]放射性测量领域中用于缩短统计学测量时间的方法无效
申请号: | 01817109.5 | 申请日: | 2001-10-04 |
公开(公告)号: | CN1468378A | 公开(公告)日: | 2004-01-14 |
发明(设计)人: | 博多·克雷布斯;英戈·克尔恩 | 申请(专利权)人: | 拉多斯技术有限公司 |
主分类号: | G01T1/167 | 分类号: | G01T1/167 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 李德山 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明涉及在测量放射性时的检测方法,以检测何时超过一预定阈值,包括下列各步:a)为污染测量设备计算总的测量间隔,b)利用上述测量设备进行若干独立测量,其测量间隔短于总的测量间隔,c)在每次独立测量后,在迄今测得值的基础上计算下列事实的概率,即在某一时间间隔内的一或多次独立测量中所有各单独测试的平均值将超过阈值,该时间间隔至少是到达总的测试间隔所剩下的那么长的时间,d)在所计算的概率小于或等于表明在剩余测量间隔内阈值将被超过的预定必然性的情况下,产生一信号,按照该信号阈值未被超过且方法结束,否则继续进行独立测试,直到或者总的测量间隔已达到或超过,或者直到单独测试所计算的概率小于或等于该预定的阈值概率,此时方法结束。 | ||
搜索关键词: | 放射性 测量 域中 用于 缩短 统计学 时间 方法 | ||
【主权项】:
1.在放射性测量中检测超越预定的限制值用的方法,其特征在于下列过程步骤:-计算对污染测量设备的总的测量持续时间,-利用测量设备实施若干次单独的测量,其测量持续时间短于总的测量持续时间,-在每次单独测量后,在前面已测量过的测量值的基础上计算一概率,即在一时间周期内的一次或若干次测量中所有单独测量的平均值超越限制值的概率,该时间周期至少具有为了达到总的测量持续时间而仍然剩下的时间长度,-在计算得出的概率小于在剩下的测量持续时间中超越限制值的一预定必然性的情况下,产生一信号表明没有发生超越限定值,并且该过程结束,否则进一步实施单独测量,直到或者总的测量持续时间已达到或已超过,或者直到单独测量之一中计算出的概率小于或等于该预定的必然性,且过程结束。
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