[发明专利]高温电路结构无效
申请号: | 01817768.9 | 申请日: | 2001-07-20 |
公开(公告)号: | CN1471632A | 公开(公告)日: | 2004-01-28 |
发明(设计)人: | J·D·帕森斯 | 申请(专利权)人: | 希脱鲁尼克斯 |
主分类号: | G01K7/16 | 分类号: | G01K7/16;H01C7/02 |
代理公司: | 上海专利商标事务所 | 代理人: | 洪玲 |
地址: | 美国内*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种高温混合电路结构,其中包括一通过电极(4a,4b)与一导电安装层(8)连接的温度感测器件(2),该温度敏感器件包含SiC、AlN和/或AlxGa1-xN(x>0.69),所述导电安装层(8)与一AlN模片(6)相结合。所述模片、温度感测器件以及安装层(它可以是W、WC或W2C)的温度膨胀系数彼此都在1.06内。安装层可完全由W、WC或W2C黏合层或一带有一金属化叠层(14)的黏合层(12)构成,所述金属化叠层的热膨胀系数不大于所述黏合层的约3.5倍。可使用反应的硼硅酸盐混合物(18),用或不用有助于保持住导线(16)并增加结构完整性的上模片(22)来封装该器件。本发明可用于温度感测器、压力感测器、化学感测器以及高温和高功率电子线路。 | ||
搜索关键词: | 高温 电路 结构 | ||
【主权项】:
1.一种高温电路结构,其特征在于,该高温电路结构包括:一陶瓷模片(6),一在所述模片上的导电安装层(8),以及一在所述安装层上的电路器件(2),该电路器件包含SiC、AlN和/或AlxGa1-xN(x>0.69),所述安装层使所述器件黏附在所述模片上并且其温度膨胀系数(TCE)在所述模片和器件的1.00±.06之内。
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