[发明专利]读热阻传感器阵列的方法和装置无效

专利信息
申请号: 01818865.6 申请日: 2001-09-17
公开(公告)号: CN1474935A 公开(公告)日: 2004-02-11
发明(设计)人: 哲德·K·宾尼格;厄斯·T·杜利格 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: G01D5/16 分类号: G01D5/16;G01B7/34;G11B9/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 冯赓宣
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明公开了一种用于读出传感器阵列的方法,该阵列(10、30、80)具有一组分别连接到该阵列的相应行的行导体(60)和一组分别连接到该阵列的相应列的列导体(50),使得每个传感器连接在行导体与列导体之间。该方法包括:对于阵列内的每行传感器,执行的读周期(Tr)包括:将激活脉冲(Ub)施加到相应行导体以激活该行上的各传感器;在从激活脉冲的边沿开始的预定时间间隔期满后,将读脉冲(Ur)施加到行导体;以及在读脉冲期间,对于该行上的每个传感器,检测依赖于传感器的可变特性的值,至少一行的读周期是在另一行读周期的预定时间间隔内开始的。在详细说明的本发明的优选例子中,传感器是热阻传感器,激活脉冲是用于加热传感器的加热脉冲,而且可变特性是电阻。
搜索关键词: 读热阻 传感器 阵列 方法 装置
【主权项】:
1、一种用于读传感器阵列的方法,该阵列具有一组分别连接到阵列上的相应行上的各传感器的行导体和一组分别连接到阵列的相应列上的各传感器的列导体,使得每个传感器连接在行导体与列导体之间,该方法包括步骤:对于阵列内的每行传感器,执行的读周期包括:将激活脉冲施加到相应行导体以激活该行上的各传感器;在从激活脉冲的边沿开始的预定时间间隔期满后,将读脉冲施加到行导体;以及在读脉冲期间,对于该行上的每个传感器,检测依赖于传感器的可变特性的值,其中至少一行的读周期是在另一行读周期的预定时间间隔内开始的。
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