[发明专利]电子零件试验用插座以及应用此插座的电子零件试验装置无效
| 申请号： | 01820180.6 | 申请日： | 2001-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN1479873A | 公开（公告）日： | 2004-03-03 |
| 发明（设计）人： | 石川贵治;中村浩人 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;H01L21/66 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 吴丽丽 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供一种电子零件试验用插座以及应用此插座的电子零件试验装置。拟解决的问题是不使噪声进入施加给IC器件等电子零件的试验信号和从IC器件等电子零件读出的响应信号中，从而控制IC插座等电子零件试验用插座的温度，为了解决该课题，通过气体流出口65与气体流入口76使电子零件试验用插座底盘6的第一空间67与电子零件试验用插座7的插座主体内部空间75连通，同时通过气体流入口66与气体流出口77使电子零件试验用插座底盘6的第二空间68与电子零件试验用插座7的插座主体内部空间75连通。 | ||
| 搜索关键词： | 电子零件 试验 插座 以及 应用 试验装置 | ||
【主权项】：
1.一种电子零件试验用插座，它具有能与应试验的电子零件外部端子连接的连接端子以及能保持上述连接端子的插座主体，其特征在于，上述插座主体中设有和在其内部形成的空间相通的气体流入口与气体流出口。
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