[发明专利]差分性能的单端通道校正无效

专利信息
申请号: 01820497.X 申请日: 2001-12-03
公开(公告)号: CN1486432A 公开(公告)日: 2004-03-31
发明(设计)人: 肖恩·P·亚当;威廉·J·鲍赫斯 申请(专利权)人: 泰拉丁公司
主分类号: G01R31/319 分类号: G01R31/319;G01R31/3193;H03K5/15;H03K5/14
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 王维玉;丁业平
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 在自动测试系统中,一种用于消除驱动器电路偏移的技术,其允许差分信号在位于或接近它们的50%-点处相交。分别连接到测量电路的第一和第二输入的第一和第二驱动器电路,每个电路产生向DUT传播的边沿,并且,当它到达位于DUT的不匹配负载时,反射回来。对所述每个测量电路的输入,所述测试系统测量边沿和它反射之间的时间间隔。将可变延迟电路设置为与所述每个驱动器电路串联。响应于测得的时间间隔,所述测试系统调整可变延迟电路,以确保来自所述第一和第二驱动器电路的信号在基本上相同的时间到达DUT。
搜索关键词: 性能 通道 校正
【主权项】:
1.一种消除第一和第二驱动器电路偏移的方法,该驱动器电路用于以在其构成的组件之间的相对低的计时偏移,来产生差分信号,所述方法包括以下步骤:(A)从第一和第二驱动器电路中的每个电路,产生一个传播到各自不匹配负载的边沿;(B)在测量电路的第一输入,接收来自第一驱动器电路的边沿,在测量电路的第二输入,接收来自第二驱动器电路的边沿,每个边沿包括:对应于步骤A所述的第一电压阶跃和对应于来自各自不匹配负载的反射的第二电压阶跃;和(C)对测量电路的第一和第二输入中的每个输入,测量第一和第二电压阶跃之间的时间差。
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