[发明专利]辐射检测以及正电子发射断层扫描无效
申请号: | 01820621.2 | 申请日: | 2001-11-28 |
公开(公告)号: | CN1481510A | 公开(公告)日: | 2004-03-10 |
发明(设计)人: | T·弗兰克;V·佩斯科夫 | 申请(专利权)人: | 爱克斯康特公司 |
主分类号: | G01T1/16 | 分类号: | G01T1/16;G01T1/20;G01T1/185 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王岳;张志醒 |
地址: | 瑞典丹*** | 国省代码: | 瑞典;SE |
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摘要: | 披露了一种辐射检测器,包括一个可以充满可电离和闪烁材料的腔体(11;51)以及一个设计为使辐射(γ;X)可以进入所述腔体的辐射入口,部分用于使所述可电离和闪烁材料电离,部分用于在其中被转换为光(hv)。该检测器还包括一个用于对所述光进行检测的光检测器(17;57),以及一个用于对由于电离而释放电子(e-)进行雪崩放大并且进行检测的电子雪崩检测器(19;59)。此外,提供了用于使检测到的光与检测到的由单个辐射光子产生的电子相关的装置;以及用于根据检测到的并且经过相关的光和检测到的电子生成信号的装置。该检测器特别适合于正电子发射断层扫描(PET)。 | ||
搜索关键词: | 辐射 检测 以及 正电子 发射 断层 扫描 | ||
【主权项】:
1.一种检测器装置,用于对辐射进行检测,该检测器装置的特征在于:一个腔体(11;51),适合于充满可电离和闪烁材料;一个辐射入口(13;53),被布置为使辐射(γ;X)能够进入所述腔体,部分用于使所述可电离和闪烁材料电离,部分在其中转换为光(hv);一个光检测装置(17;57),用于对某些所述光进行时间和空间分解检测;一个电子雪崩检测装置(19;59),用于对由于使所述可电离和闪烁材料电离而释放的电子(e-)进行雪崩放大,并且用于对所述经过雪崩放大的电子进行时间和空间分解的检测;相关装置,用于使检测到的光与检测到的由单个辐射光子产生的经过雪崩放大的电子相关;以及生成装置,用于根据所述经过相关的检测光和检测到的经过雪崩放大的电子产生一个单个信号,其中,所述光检测装置适合于对光进行能量分解的检测;并且所述生成装置适合于产生具有可以与检测到的经过雪崩放大的电子的空间和时间分辨率相比的空间和时间分辨率以及可以与检测到的光的光谱分辨率相比的光谱分辨率的所述单个信号。
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