[发明专利]监控和改进多层PCB制造的尺寸稳定性和配准精度的系统和方法无效

专利信息
申请号: 01820798.7 申请日: 2001-10-25
公开(公告)号: CN1481535A 公开(公告)日: 2004-03-10
发明(设计)人: J·托尔内;A·凯利;S·琼斯 申请(专利权)人: 惠亚集团公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50;G03F9/00
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 沙捷;赵蓉民
地址: 美国密*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 目标被插入在PCB布局图的各处。目标的制造后测量与制造前位置相比,以计算出非线性回归分析最佳拟合模型。该模型用于在布局图上给出特征位置的PCB上或之内生成一个特征的位置。该非线性回归分析产生一组x和y多项式方程。这些多项式方程允许一个线性的补偿被施加于在布局图上的特征位置,以便将在PCB制造过程中特征的配准不良减到最小。在对于该特征在制造前的定位进行线性补偿之前和之后建立该特征在制造后的定位的模型。因此,可以估计特征位置补偿的效果。使用线框示意图和彩色编码示意图的图形表示有助于标识板的那些区域,即相对于技术要求被预测处于容限之内和之外的区域。此外,本发明可应用于测试不同材料的效果。以此方式,根据使对配准条件的超出减到最小,可以识别用于特定PCB的最佳材料。
搜索关键词: 监控 改进 多层 pcb 制造 尺寸 稳定性 精度 系统 方法
【主权项】:
1.一种用于在印制电路板(PCB)板上精确定位和配准特征的方法,包括:生成一个具有各角的布局图,用以在至少一个基底材料板上定位特征;在该布局图上期望的位置定位多个目标;记录每个目标的制造前标称位置;由该至少一个基底材料板制造至少一个PCB;测量每个目标的制造后实际位置;记录该每个目标的实际位置;计算该每个目标的实际位置离开该每个目标的标称位置的移动;建立在制造期间该多个目标的移动的模型;和运用该模型于制造前特征位置,以补偿在该制造期间的移动。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于惠亚集团公司,未经惠亚集团公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/01820798.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top