[发明专利]层状介电纳孔材料及其制备这种材料的方法无效

专利信息
申请号: 01822726.0 申请日: 2001-12-18
公开(公告)号: CN1555575A 公开(公告)日: 2004-12-15
发明(设计)人: J·G·西科尼亚 申请(专利权)人: 霍尼韦尔国际公司
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498;H01L23/538;H01L21/316;H01L21/768
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 周慧敏;马崇德
地址: 美国新*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 根据本发明,提供了生产层状低介电常数纳孔材料的组合物和方法,其包含与基板毗邻的第一层、与第一层毗邻的第二纳孔层、和与第二层毗邻的附加层。本发明的层状介电体使用纳孔材料制备,通过(a)在基板上沉积第一层;(b)沉积第二层,其是纳孔的并且与第一层毗邻;(c)处理第二层材料产生纳孔;和(d)沉积至少一个附加层,其部分与第二层毗邻。也可以在基板层和第一层之间设置导线层或其它电子元件层。
搜索关键词: 层状 电纳 材料 及其 制备 这种 方法
【主权项】:
1. 一种层状低介电常数纳孔材料,包含:与基板毗邻的第一层;第二层,其是纳孔的并与第一层毗邻;和一个附加层,其部分地与第二层毗邻。
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