[发明专利]用改进的减反射元件封装的红外检测器有效
申请号: | 01822867.4 | 申请日: | 2001-12-20 |
公开(公告)号: | CN1493089A | 公开(公告)日: | 2004-04-28 |
发明(设计)人: | B·E·科尔 | 申请(专利权)人: | 霍尼韦尔国际公司 |
主分类号: | H01L31/0203 | 分类号: | H01L31/0203;H01L31/0216;H01L27/146 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 杨凯;张志醒 |
地址: | 美国新*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种红外检测器在具有空腔的盖板中有一个窗口,用以将检测器像素暴露给入射辐射。所述窗口具有以支柱区的形式形成在空腔内的减反射元件。在空腔中形成支柱结构区的方法是:首先将支柱刻蚀成所需图案,然后在整个区域进行一般刻蚀以便形成所述空腔。 | ||
搜索关键词: | 改进 反射 元件 封装 红外 检测器 | ||
【主权项】:
1.一种封装盖板,它具有用以接纳红外检测器的空腔和用以将红外辐射透射到所述检测器的窗口区域,所述空腔内所述窗口区域的内表面具有这样成形和隔开的支柱区、以便形成对于透射过所述窗口区域的红外辐射的减反射元件。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于霍尼韦尔国际公司,未经霍尼韦尔国际公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/01822867.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:集成电路封装压力释放装置和方法
- 下一篇:热电器件
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的