[发明专利]非线性修正扩展电离室量程范围的方法无效
| 申请号： | 02100720.9 | 申请日： | 2002-01-21 |
| 公开（公告）号： | CN1152264C | 公开（公告）日： | 2004-06-02 |
| 发明（设计）人： | 杨华庭;张世让;程昶;郭占杰 | 申请（专利权）人： | 中国辐射防护研究院 |
| 主分类号： | G01T1/185 | 分类号： | G01T1/185 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 | 代理人： | 高尚梅 |
| 地址： | 030006*** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | 本发明提供一种非线性修正扩展量程范围的方法，在电离室饱和全收集情况下，其测量的剂量率De可由下式计算：De＝Ie/Ke，Ie＝C·ΔV/t；在电离室不饱和收集情况下，其测量的剂量率De可由下式计算：De＝E·X2+F·X+G，X＝Ie/Ke，Ie＝C·ΔV/t。式中，De为剂量率，Ie为收集电流，Ke为电离室的灵敏度因子，C为积分电容，ΔV为积分定时结束与开始时电容上的电压差，t为积分定时时间，E、F、G为待定系数。通过非线性修正的方法，使充气电离室的工作范围扩大到不饱和收集区，以此扩展电离室的量程范围，使得只采用一个电离室就可跨越8个数量级的量程范围，从而实现对现有电离室测量方法的补充。经放射性计量一级站校准，仪器在此范围内满足基本误差小于±15％的要求。 | ||
| 搜索关键词： | 非线性 修正 扩展 电离室 量程 范围 方法 | ||
【主权项】：
1.非线性修正扩展电离室量程范围的方法，其特征在于采用非线性修正方法，使电离室的工作范围扩大到不饱和收集区：a.饱和全收集情况下，电离室测量的剂量率De可由下式计算：De＝Ie/Ke，Ie＝C×ΔV/t；b.不饱和收集情况下，电离室测量的剂量率De可由下式计算：De＝EX2+FX+G，X＝Ie/Ke，Ie＝C×ΔV/t；式中，De为剂量率，Ie为收集电流，Ke为电离室的灵敏度因子，C为积分电容，ΔV为积分定时结束与开始时电容上的电压差，t为积分定时时间，E、F、G为待定系数。
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