[发明专利]动态地隐藏存储器缺陷的方法及装置有效
| 申请号： | 02102496.0 | 申请日： | 2002-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN1434458A | 公开（公告）日： | 2003-08-06 |
| 发明（设计）人： | 陈韵琪 | 申请（专利权）人： | 旺宏电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李强 |
| 地址： | 台湾省新竹科*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种动态地隐藏存储器缺陷的方法及装置，该存储器含有至少一缺陷存储区；在一实施例中，一存储区占用对照表包含复数个栏位，每一个栏位对应该存储器的一个存储区，在该存储器的初始测试程序中，将缺陷存储区所对应的占用对照表的栏位加以标示，使其被认为已经被占用，因而该缺陷存储区后续不再被使用；在另一实施例中，从一备用暂存器仓库选取假代存储区，每一个假代存储区对应一个缺陷存储器，后续对缺陷存储区的存取被重新指引至其对应的假代存储区。 | ||
| 搜索关键词： | 动态 隐藏 存储器 缺陷 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种动态地隐藏存储器缺陷的装置，其特征是：该存储器含有复数个存储区，该装置包括：一存储区占用对照表，含有复数个栏位，每一个栏位对应该复数个存储区的其中一个存储区；及一初始控制装置，以控制在该存储区占用对照表中缺陷存储区对应的栏位内写入一标示，以表示该缺陷存储区已经被占用。
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