[发明专利]嵌入式动态随机存取内存的整合自行对准金属硅化物闸极的制造方法有效
申请号: | 02103496.6 | 申请日: | 2002-02-06 |
公开(公告)号: | CN1437221A | 公开(公告)日: | 2003-08-20 |
发明(设计)人: | 蒋敏雄;曾晓晖;张宪元;张中玮 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/28 | 分类号: | H01L21/28;H01L21/8242 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 刘朝华 |
地址: | 台湾省新竹科*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种嵌入式动态随机存取内存的整合自行对准金属硅化物闸极的制造方法,于半导体基底上依序形成闸极氧化层、第一复晶硅层、第一遮蔽层及第一硬罩幕层并定义形成闸极结构;于半导体基底上形成源/汲极;于半导体基底上形成第二遮蔽层、衬垫层及第一绝缘层以覆盖闸极结构及源/汲极并定义形成电容器接触开口及位线接触开口;于电容器接触开口及此线接触开口沉积半球形晶粒复晶硅层、介电质层及第二复晶硅层;定义第二复晶硅层以作为电容器上极板;去除第一绝缘层、部分衬垫层、部分第二遮蔽层、第一硬罩幕层及第一遮蔽层以露出此第一复晶硅层的表面;于第一复晶硅层及第二复晶硅层的表面形成金属硅化物;于半导体基底上形成第二硬罩幕层及第二绝缘层;形成钨接触插塞,其穿过内介电层及第二硬罩幕层与位线电性连接。 | ||
搜索关键词: | 嵌入式 动态 随机存取 内存 整合 自行 对准 金属硅 化物闸极 制造 方法 | ||
【主权项】:
1、一种嵌入式动态随机存取内存的整合自行对准金属硅化物闸极的制造方法,其特征是:它包括下列步骤:(1)于半导体基底上依序形成闸极氧化层、第一复晶硅层、第一遮蔽层及第一硬罩幕层;(2)定义该闸极氧化层、第一复晶硅层、第一遮蔽层及第一硬罩幕层,以形成一闸极结构;(3)于该半导体基底上形成源/汲极;(4)于该半导体基底上形成第二遮蔽层、衬垫层及第一绝缘层,以覆盖该闸极结构及该源/汲极;(5)定义该第二遮蔽层、衬垫层及第一绝缘层,以形成电容器接触开口及位线接触开口;(6)于该电容器接触开口及位线接触开口沉积半球形晶粒复晶硅层、介电质层及第二复晶硅层;(7)定义该第二复晶硅层,以作为电容器上极板;(8)去除该第一绝缘层、部分衬垫层、部分第二遮蔽层、第一硬罩幕层及第一遮蔽层,以露出该第一复晶硅层的表面;(9)于该第一复晶硅层及第二复晶硅层的表面形成金属硅化物;(10)于该半导体基底上形成第二硬罩幕层及第二绝缘层;(11)形成钨接触插塞,其穿过该内介电层及第二硬罩幕层,与该位线电性连接。
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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