[发明专利]并行集成熔体热处理及检测方法无效
申请号: | 02111076.X | 申请日: | 2002-03-19 |
公开(公告)号: | CN1388266A | 公开(公告)日: | 2003-01-01 |
发明(设计)人: | 蔡英文;李建国 | 申请(专利权)人: | 上海交通大学 |
主分类号: | C22F3/00 | 分类号: | C22F3/00;C21D10/00 |
代理公司: | 上海交达专利事务所 | 代理人: | 毛翠莹 |
地址: | 200030*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种并行集成熔体热处理及检测方法,在同一个实验周期中对一个试样分熔区或者对多个试样分炉进行并行熔体热处理,在合金的熔点和沸点之间,使熔体温度在两个温度段之间进行分段保温并循环,然后将凝固以后的试样进行编号,进行组织分析和性能检测,从所得合金的温度—保温时间—循环次数—冷却速率—终态组织—使用性能之间的对应关系,得到材料的TTT和CCT曲线。等量增减合金系的各种元素含量,即可得到该合金系中的一系列的TTT和CCT曲线,把所有这些数据加以归纳总结可用于指导实际生产。本发明具有工艺简单、无污染、成本低廉、易于推广的优点,可以大大缩短实验所需要的时间周期,为全面测试特定合金系统的动力学相图提供了可能性。 | ||
搜索关键词: | 并行 集成 热处理 检测 方法 | ||
【主权项】:
1、一种并行集成熔体热处理及检测方法,其特征在于包括如下步骤:1)在电磁感应区熔装置中,根据试棒的长度和熔区的高度,从试样的底部开始,每隔1~3厘米划定一个熔区,或者在同一个真空系统中对一组加热炉体实现分立式温度调节;2)在同一个实验周期中进行并行熔体热处理,在炉体温度升高到合金的熔点温度以上之后,在熔点和沸点之间,将熔体温度由A温度升高到B温度,再使熔体温度下降,并在A、B温度段之间进行分段保温,每一个温度段保温30秒至30分钟,在A、B温度之间进行1~10次循环;3)完成每一熔区或者每一炉体内的熔体热处理过程以后,进行金属熔体的凝固。4)将凝固以后的试样进行编号,进行组织分析和性能检测,对所得到的全部样品进行同时的批量测试,从而一次性得到所有样品的全部数据。5)从上述所得合金的温度-保温时间-循环次数-冷却速率-终态组织-使用性能之间的对应关系,得到材料的TTT和CCT曲线。
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