[发明专利]全反射单发二阶自相关测量仪无效

专利信息
申请号: 02112076.5 申请日: 2002-06-14
公开(公告)号: CN1385682A 公开(公告)日: 2002-12-18
发明(设计)人: 王兴涛;李儒新;印定军 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00
代理公司: 上海开祺专利代理有限公司 代理人: 李兰英
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种全反射单发二阶自相关测量仪,适用于精确测量飞秒激光脉冲的时间宽度。包括待测光源发射的待测光束经过第一小孔光阑后,入射到顶角为90°分光棱镜上,分光棱镜的两直角反射面将光束分成两束光,再分别经过两反射镜的反射后入射到倍频晶体上。经过倍频晶体产生干涉倍频后,经过第二小孔光阑入射到输出连接到示波器上的探测器上。与在先技术相比,本发明采用分光棱镜的两直角反射面作为分光元件,避免了在先技术中使用透射元件所带来的色散影响,提高了测量精度。结构简单,容易操作。
搜索关键词: 全反射 单发 相关 测量仪
【主权项】:
1.一种全反射单发二阶自相关测量仪,包括第一小孔光阑(2),与第一小孔光阑(2)同中心轴线(OO'O"O)的置有第二小孔光阑(9),第一小孔光阑(2)与第二小孔光阑(9)之间同中心轴线(OO'O"O)的置有倍频晶体(8),在第二小孔光阑(9)的出射端置有输出连接到示波器(11)上的探测器(10),待测光源(1)置放在第一小孔光阑(2)的入射端,并待测光束的中心光轴与第一,第二小孔光阑(2、9)的中心轴线(OO'O"O)重合,其特征在于在第一小孔光阑(2)与倍频晶体(8)之间置有顶点(O')对着第一小孔光阑(2)中心点(O),底边置放在调整架(7)上的分光棱镜(16),分光棱镜(16)的顶角为90°,两直角面为直角反射面,顶点(O')在第一小孔光阑(2)与第二小孔光阑(9)的中心轴线(OO'O"O)上,有两反射面分别与分光棱镜(16)两直角反射面相对镜像置放在长调整架(17)上的第一反射镜(4)和第二反射镜(12)。
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