[发明专利]一种大型扫描仪的影像感测组件的校正方法有效

专利信息
申请号: 02112115.X 申请日: 2002-06-18
公开(公告)号: CN1464743A 公开(公告)日: 2003-12-31
发明(设计)人: 施伯昇 申请(专利权)人: 虹光精密工业(苏州)有限公司
主分类号: H04N1/047 分类号: H04N1/047
代理公司: 上海市华诚律师事务所 代理人: 徐申民
地址: 215021 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明属于一种大型扫描仪的影象感测组件的校正方法,即通过一根扫描线扫描数个具有已知斜率的校正图形,并至少由二个影像感测组件接收局部的影像信息。利用影像感测组件上对应校正图形所出现的样点,结合校正图形所提供的已知斜率可以求得交点。这样通过同一影像感测组件上的相异交点间的差异,就可作为校正该影像感测组件两端歪斜的依据,而通过相邻影像感测组件上的交点间的差异,则可作为校正影像重叠及影像偏置连结的依据。
搜索关键词: 一种 大型 扫描仪 影像 组件 校正 方法
【主权项】:
1、一种大型扫描仪的影像感测组件的校正方法,其特征是,所述大型扫描仪中包含至少二个影像感测组件,以及至少二个校正图形,且各校正图形上均提供已知的斜率,在满足上述条件下,所述的各个影像感测组件的校正方法包含以下步骤:扫描取样,即用一根扫描线扫描各个校正图形;接收样点,即各个影像感测组件接收扫描取样后所传送出的影像信息,并在各个影像感测组件上对应校正图形产生分布的样点;计算交点,即通过各个影像感测组件上的样点,结合校正图形所提供的已知斜率,计算出通过样点的线的交点,且利用各个影像感测组件上的样点,至少计算出二个交点;校正歪斜,即通过比较一个影像感测组件上所计算出的各交点的位置,作为校正该影像感测组件相对两端歪斜的依据。
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