[发明专利]材料显微结构测试仪的静力载荷测控装置及方法无效

专利信息
申请号: 02116908.X 申请日: 2002-04-26
公开(公告)号: CN1380540A 公开(公告)日: 2002-11-20
发明(设计)人: 李鸿琦;邢冬梅;佟景伟;马世虎;李林安;王世斌 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01N13/10 分类号: G01N13/10;G01B9/04;G01B11/00
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 代理人: 张宏祥
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明在显微镜上设置有静力加载装置,显微目镜处设有信号采集器,信号采集器由导线与图像采集卡、微处理器、显示器顺序连接,微处理器并由导线分别与电源、静力加载装置连接,光源器还由导线与电源连接。控制方法有1,开始;2,调节试件位置初加载,施加光源;3,采集测量信号,并输入图像采集卡进行A/D转换及存储;4,由微处理器对图像采集卡输入的测量数据信号进行计算和处理,并作信号判断,若是,则显示输出结果;并,设置静力增量载荷、调节光学成像系统,重复3,4的步骤,直至完成试件材料显微结构的静力载荷测试。由此本发明在对材料的位移、变形、应变、应力,和微结构组织形貌观测时具有测量精确、快速方便。
搜索关键词: 材料 显微结构 测试仪 静力 载荷 测控 装置 方法
【主权项】:
1.一种材料显微结构测试仪的静力载荷测控装置,由显微镜、静力加载装置、信号采集器、图像采集卡、微处理器、显示器、光源器和电源构成,其特征在于,显微镜上设置有静力加载装置,显微镜的目镜处设置有信号采集器,信号采集器由导线与图像采集卡、微处理器、显示器顺序连接,微处理器并由导线分别与电源、静力加载装置连接,光源器还由导线与电源连接。
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