[发明专利]测量大型立轴摆度的方法及其设备

摘要

一种测量大型立轴摆度的方法，包括：在被测立轴上设定两个测量点；测量两个测量点的高程；在该被测轴的四周设定四个具有光滑水平表面的测量块；依次移动测量位置进行测量；记录下百分表在测量块的数据；用前述测得参数，通过公式计算该被测立轴的摆度或相对摆度。本发明的设备，是一个具有平滑底座、以一个绕线轮与读数齿轮相连接的百分表；两个用细线连在一起，用于在被测轴上设置测量点的设备；其中百分表绕线轮上的绕线引出两个头与设置测量点的设备相接；设置与被测轴四周、具有光滑平面的测量块，用于架置百分表进行测试。无需笨重的盘车设备辅助，避免了由于使用盘车设备带来的影响测量精度的不利因素，降低测量成本，提高测量精度。

主权项

1.一种测量大型立轴摆度的方法，它以如下的步骤实现：a.提供一被测立轴；b.在所述被测立轴不同高度上设定两个测量点；c.测量并记录两个测量点的高程；d.在该被测立轴的四周等距离设定四个具有光滑水平表面的测量块；e.利用已知的轴顶与下测点间的距离、上、下细线的长度、两个测点间的距离、测量块与轴之间距离、测量块的高程；f.以第一个测量块及相应测量点为基准，百分表对″0″；g.依次移动测量位置到第二、三、四测量块进行测量；h.记录下百分表在所述测量块的数据；i.用前述测得参数，通过公式计算该被测立轴的摆度或相对摆度。