[发明专利]原子光谱仪样品进入方法无效
| 申请号： | 02119410.6 | 申请日： | 2002-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN1437013A | 公开（公告）日： | 2003-08-20 |
| 发明（设计）人： | 李鸿敏 | 申请（专利权）人： | 李学璧 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31;G01N1/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 300022 天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明属于原子光谱仪上的样品进入系统。该发明包括以下部分：(1)加热含元素的样品溶液与氢的还原反应体系，使该反应(生成氢化物)在高于室温的温度下进行。(2)使生成的氢化物与样品溶液(或残渣)及溶剂蒸气分离。(3)使生成的氢化物被载气导入原子光谱仪中的原子(离子)化器中进行光谱或质谱测定。该方法可用于原子荧光，原子吸收，原子发射，原子质谱等原子光谱仪上的进样系统，不仅适用于传统上易形成氢化物的九个元素(砷，锑铋，锗，锡，铅，硒，碲，汞)的样品分析进入，也适用于其它几十种元素(金，银，钴，钯，锰，钙……等)的样品分析进入。该方法的发明，是仪器分析史上的一次重要技术进步。 | ||
| 搜索关键词： | 原子 光谱仪 样品 进入 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于提高(或增加)元素形成氢化物产率的方法，该方法应用于原子光谱仪(AFS，AAS，AES，ICP-AES，ICP-MS，等)中的样品进入系统。该方法由以下三个部分组成：(1)加热含元素的样品溶液与氢还原反应体系，使元素与氢的还原反应(生成氢化物)在高于室温的温度下进行。(2)使反应产生的氢化物与残余样品溶液(或残渣)和溶剂蒸汽分离。(3)产生的氢化物被载气载入原子光谱仪中的原子(离子)化器中。
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