[发明专利]半导体器件无效

专利信息
申请号: 02121782.3 申请日: 2002-05-31
公开(公告)号: CN1428865A 公开(公告)日: 2003-07-09
发明(设计)人: 行川敏正;宫野信治;铃木淳 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: H01L27/10 分类号: H01L27/10;H01L27/12;G11C11/34
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王永刚
地址: 暂无信息 国省代码: 暂无信息
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摘要: 半导体衬底具有体区和埋入绝缘膜及空洞区的一方上形成的半导体区。体区包括多个存储单元、读出放大器和列选择门,半导体区包括字线选择电路和列选择电路。
搜索关键词: 半导体器件
【主权项】:
1、一种半导体器件包括:半导体衬底内形成的体区;以及上述半导体衬底内的埋入绝缘膜和空洞区的一方上形成的半导体区,上述体区包含:含有行列状配置且连接位线和字线的多个存储单元的存储单元阵列;连接到上述存储单元阵列的上述位线的读出放大器,上述读出放大器读出并放大上述位线上的电位;以及把上述读出放大器连接到第1数据线的列选择门,上述半导体区包含:选择上述字线的字线选择电路;以及选择上述列选择门的列选择电路。
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