[发明专利]基于边界扫描的电路采样的逻辑分析方法和装置有效
| 申请号： | 02122639.3 | 申请日： | 2002-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN1464424A | 公开（公告）日： | 2003-12-31 |
| 发明（设计）人： | 李颖悟;兰波 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/00 | 分类号： | G06F17/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 朱进桂 |
| 地址： | 518057 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于边界扫描的电路采样的逻辑分析方法，包括步骤在逻辑模块系统中设定需要进行采样的器件引脚和采样频率；系统根据设定的器件引脚和采样频率的信息结合被测电路板的扫描链的信息进行分析，得到扫描链的最少的串行移位次数；通过边界扫描总线控制器在需要进行采样的被测器件中装入采样指令；边界扫描总线控制器控制被测器件进入采样状态，将器件的被测引脚上的值采入扫描单元的寄存器中；控制被测器件执行移位操作，将采样得到的值通过边界扫描总线控制器送到计算机中进行分析和显示。本发明的方法由逻辑模块和边界扫描总线控制器执行。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 边界 扫描 电路 采样 逻辑 分析 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种基于边界扫描的电路采样的逻辑分析方法，包括步骤：在逻辑模块中设定需要进行采样的器件引脚和采样频率；系统根据设定的器件引脚和采样频率的信息结合被测电路板的扫描链的信息进行分析，得到扫描链的最少的串行移位次数；通过边界扫描总线控制器在被测器件中装入采样指令；边界扫描总线控制器控制被测器件进入采样状态，将器件的被测引脚上的值采入扫描单元的寄存器中；控制被测器件执行移位操作，将采样得到的值通过边界扫描总线控制器送到计算机中进行分析和显示。
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