[发明专利]IC测试处理机的机台配置及其加工流程

摘要

本发明为一种IC测试处理机的机台配量及其加工流程，其具有：堆叠供料缓冲部，可大量层叠待测试的IC，减少停机进料的时间；空IC托盘调度机构，可将供料缓冲部的取完IC的空的供料托盘吸起，集中在空IC托盘堆叠区备用；双IC输送臂，各具有双吸取头，可一次吸取对IC；往复运送暂存盘，以一对彼此错位发暂存盘来送入/送出IC测试区，能令测试区的测试执行持续而不中断；IC完测放置区，系统自动判断该IC测试结果，并将测试结果的合格品及其他等级品分类放置，等等各个部门。能充分利用其机构跟机构间的运动空间特性与方向，组合成一高效率、所占用空间最小的机台配置及加工流程最简约的工作机台。

主权项

1.一种IC测试处理机的机台配置，主要结构为一小型机台，并在机台上设有堆叠供料缓冲部、空托盘调度机构，空IC托盘调度机构，入测部双IC输送臂、完测部双IC输送臂，往复运送暂存盘，IC测试区，IC完测放置区等机构，其特征是，堆叠供料缓冲部：设于机台最边侧，为一装满待测IC的层叠供料托盘，每一供料托盘可作Z轴方向的升降输送；且最上层的供料托盘可由Y轴传动机构作Y轴方向的移动；空IC托盘调度机构：由一具X轴传动机构的座体及其悬臂所组成，该悬臂上设有真空吸盘，并可以座体的Z轴为轴心旋转，可将供料缓冲部的取完IC的空的供料托盘吸起，集中在空IC托盘堆叠区备用，或由X轴传动机构来作X轴移动，将空IC托盘放置在合格品放置盘；入测部双IC输送臂：有双吸取头，可一次吸取一对IC，设有X轴传动机构来作X轴向输送IC；完测部双IC输送臂：有双吸取头，可一次吸取一对IC，其具有X轴传动机构与Y轴传动机构，可作X轴及Y轴方向输送IC；主要负责将供料缓冲部的供料托盘上的待测IC输送到往复运送暂存盘的入测IC座槽内；并将往复运送暂存盘的完测IC座槽内的完测IC输送到完测放置区；往复运送暂存盘：设于测试区的测试头两侧的一对彼此错位的暂存盘，该暂存盘由Y轴传动机构来作Y轴方向的往复运动来将待测IC/完测IC送入/送出IC测试区；IC完测放置区：可分为合格品放置盘及其他等级品放置盘，供完测IC归类放置。