[发明专利]包装及缓冲件优化设计中耐冲击测试的方法和系统无效
| 申请号： | 02124077.9 | 申请日： | 2002-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN1492225A | 公开（公告）日： | 2004-04-28 |
| 发明（设计）人： | 郑自堂;王军;周建;王超政 | 申请（专利权）人： | 联想(北京)有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/30 | 分类号： | G01N3/30;G01N3/303 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李云鹏 |
| 地址： | 100085北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种包装及缓冲件优化设计中耐冲击测试的方法，首先利用冲击信号采集装置采集被测跌落样品在跌落时承受的冲击信号；然后将获取的冲击信号进行处理和计算，获得冲击载荷值；一种实现上述方法的系统，包括：冲击信号采集装置、振动信号处理和分析系统、跌落试验设备；跌落试验设备用于放置被测跌落样品，完成样品的跌落试验；冲击信号采集装置装设在被测跌落样品上，与振动信号处理和分析系统连接，采集并发送冲击信号；振动信号处理和分析系统接收从冲击信号采集装置传送来的冲击信号，并把冲击信号处理和换算为冲击载荷值；本发明通过测试样品实际承受的冲击载荷，为包装优化设计提供了依据，可合理、有效地使用包装材料，避免浪费，降低包装成本。 | ||
| 搜索关键词： | 包装 缓冲 优化 设计 冲击 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
1、一种包装及缓冲件优化设计中耐冲击测试的方法，其特征在于：它至少包括如下的步骤：步骤1：利用冲击信号采集装置采集被测跌落样品在跌落时所承受的冲击信号；步骤2：将步骤1获取的冲击信号进行处理和计算，获得冲击载荷值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联想(北京)有限公司，未经联想(北京)有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/02124077.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种用于微小样品的六轴力学性能测量装置
- 下一篇：血红蛋白目测比色卡
