[发明专利]清晰度测试图表的参考位置的检测方法无效

专利信息
申请号: 02124305.0 申请日: 2002-06-10
公开(公告)号: CN1464287A 公开(公告)日: 2003-12-31
发明(设计)人: 王国任 申请(专利权)人: 力捷电脑股份有限公司
主分类号: G01D21/00 分类号: G01D21/00
代理公司: 上海专利商标事务所 代理人: 王月珍
地址: 台湾省新竹市 30*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种清晰度测试图表的参考位置的检测方法,这个方法包含:利用一影像检索装置取得一清晰度测试图表中包含一最大暗部的一影像;计算此像中最大暗部的长度;然后分割影像成为若干个区域,而其中每个区域的面积为最大暗部长度一半的平方;计算每个区域的一像素程度平均值,用以求出具最低像素程度平均值的一最暗区域;及找出四个与最暗区域相邻的斜角区域。本发明改变了现有做法中需使用人眼来辨识通过光学装置后的清晰度测试图表,使得各项工作具有较为客观的标准。此外,经比较计算在这些区域中黑色部分与白色部分所占比例及相关位置后,也可对由扫描器所取得的清晰度测试图表影像进行角度的校正。
搜索关键词: 清晰度 测试 图表 参考 位置 检测 方法
【主权项】:
1.一种清晰度测试图表的参考位置的检测方法,其中该清晰度测试图表至少包含一最大暗部及至少一测试图案组,且该测试图案组中所包含的测试图形的位置都可经由与该最大暗部的相对位置而计算出,其特征在于所述的清晰度测试图表的参考位置的检测方法包含:取得在一清晰度测试图表中包含一最大暗部的一影像;计算所述的影像中该最大暗部的长度;分割所述的影像成为若干个区域,而其中每个区域的面积为所述的最大暗部长度一半的平方;计算每个区域的一像素程度平均值,用以求出具最低像素程度平均值的一最暗区域;及找出四个与所述的最暗区域相邻的斜角区域。
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