[发明专利]测量悬浮颗粒物质的方法和设备无效
| 申请号： | 02126129.6 | 申请日： | 2002-07-17 |
| 公开（公告）号： | CN1397793A | 公开（公告）日： | 2003-02-19 |
| 发明（设计）人： | 足立元明;奥山喜久夫;十时慎一郎;樋口三千郎;岛冈治夫;深井秋博 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N21/47 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 李晓舒,魏晓刚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测量大气中悬浮颗粒物质的方法和设备。在此方法和设备中，利用一个泵将大气中的悬浮颗粒物质抽吸到一个容器内。在该容器内对大气中的悬浮颗粒物质进行充电，以电收集它们。在收集起来的悬浮颗粒物质被分散成合适浓度的条件下，利用激光束对收集起来的悬浮颗粒物质进行照射。对通过用激光束照射悬浮颗粒物质所获得的衍射和散射光线的空间强度分布进行测量。从测量结果得出悬浮颗粒物质的粒径分布。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 悬浮 颗粒 物质 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种测量大气中悬浮颗粒物质的方法，该方法包括：将大气中的悬浮颗粒物质抽吸入一个容器中；在所述容器内对大气中的悬浮颗粒物质进行充电；电收集充过电的悬浮颗粒物质；在收集起来的悬浮颗粒物质被分散开的条件下，利用激光束对收集起来的悬浮颗粒物质进行照射；对利用激光束照射悬浮颗粒物质所获得的衍射和散射光线的空间强度分布进行测量；以及利用测量结果计算悬浮颗粒物质的粒径分布。
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