[发明专利]闪存的对角线测试方法无效
申请号: | 02126369.8 | 申请日: | 2002-07-19 |
公开(公告)号: | CN1469394A | 公开(公告)日: | 2004-01-21 |
发明(设计)人: | 邱绍国;叶人杰;郑国良;黄稚存;吴诚文 | 申请(专利权)人: | 蔚华科技股份有限公司;国立清华大学 |
主分类号: | G11C29/00 | 分类号: | G11C29/00;G01R31/317 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 王敬波 |
地址: | 中国*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明揭示一种闪存的对角线测试方法。该测试方法是将该闪存虚拟为数个正方形,并以由上至下和左至右的方向执行。每一个正方形具有一由左上至右下的-45度的第一对角线及一由左下至右上的+45度的第二对角线。本发明即利用程序化该第一对角线或第二对角线的组件,且之后读取除该第一对角线或第二对角线以外的组件;或程序化除该第一对角线或第二对角线以外的组件,且之后读取该第一对角线或第二对角线的组件的方式而快速有效检测该闪存的干扰故障与一般内存的故障。 | ||
搜索关键词: | 闪存 对角线 测试 方法 | ||
【主权项】:
1.一种闪存的对角线测试方法,包含:(a)抹除该闪存组件数组;(b)程序化该闪存组件数组的除第一对角线以外的组件;(c)读取该闪存组件数组的第一对角线的组件;(d)程序化该闪存组件数组的第一对角线的组件;及(e)读取该闪存组件数组的除第一对角线以外的组件。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于蔚华科技股份有限公司;国立清华大学,未经蔚华科技股份有限公司;国立清华大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/02126369.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体存储器件
- 下一篇:带补救电路的半导体存储装置