[发明专利]检测判级系统

摘要

一种检测判级系统，其是与一光学仪器配合以检测并判级一光学元件，且包括一数据接口、一检测模块、一标准数据库、一检测判级数据库、一判级模块以及一储存模块。其中，数据接口接收光学仪器测量光学元件所输出的一光学数据，检测模块依据光学数据产生一检测数据，判级模块比较检测数据与储存于标准数据库的标准数据以产生一判级数据，而储存模块将检测数据及判级数据储存于检测判级数据库中。本发明的检测判级系统直接透过数据接口接收光学元件的光学数据，所以能够利用自动化方式来检测并判级光学元件，以减少人为操作所导致的时间浪费及人为疏失。

主权项

1、一种检测判级系统，其与一光学仪器配合以检测并判级一光学元件，包含：一数据接口，其接收该光学仪器测量该光学元件所输出的一光学数据；一检测模块，其依据该光学数据产生一检测数据；一标准数据库，其储存至少一笔标准数据；一检测判级数据库；一判级模块，其比较该检测数据与该标准数据以产生一判级数据；以及一储存模块，其将该检测数据及该判级数据储存于该检测判级数据库中。