[发明专利]多束光光电保护系统无效
申请号: | 02127737.0 | 申请日: | 2002-08-07 |
公开(公告)号: | CN1406713A | 公开(公告)日: | 2003-04-02 |
发明(设计)人: | 工藤元宏;井上哲 | 申请(专利权)人: | 株式会社其恩斯 |
主分类号: | B23Q11/00 | 分类号: | B23Q11/00;F16P3/14 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 黄小临,王志森 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供一种多束光光电保护系统和一种用于检测在一种多束光光电保护系统中的一光学障碍物的方法。该多束光光电保护系统包括一子光检测装置和一子发光装置,它们被平行相间地放置在在主发光装置和主光检测装置之间延伸的一个平面内。当系统被用于产生用于具有从机器的主要部分向外大幅度突出的突出部分的机器的光屏的时候,子光检测装置和子发光装置被放置在与突出部分的相对侧相邻,以接收来自主发光装置的光束,和向主光检测装置发出光束。因此,系统产生一个在突出部分周围延伸的光屏,而不留下不能检测的、光屏平面内的突出部分的相对侧上的任何区域。 | ||
搜索关键词: | 多束光 光电 保护 系统 | ||
【主权项】:
1.一种多束光光电保护系统,用于向一外部装置输出一阻塞信号,所述阻塞信号指示由于一光学障碍物侵入一光屏而导致的对组成光屏的任何光束的任何光阻塞,包括:一主发光装置,具有多个在一个阵列中以相等的间隔对准的发光元件;一主光检测装置,具有多个与所述多个发光元件数目相等的和在一个阵列中以相等的间隔对准的光检测器;一子光检测装置,位于所述主发光装置和所述主光检测装置之间,具有至少一个能够检测来自所述主发光装置的一光束的光检测器;一子发光装置,位于所述主发光装置和所述主光检测装置之间,具有至少一个能够向所述主光检测装置发光的发光元件;所述光屏,包括:在所述主发光装置和所述主光检测装置之间定义的一主检测区域,用于检测在那里的任何光学障碍物;在所述主发光装置和所述子光检测装置之间定义的一第一子检测区域,用于检测在那里的任何光学障碍物;以及在所述子发光装置和所述主光检测装置之间的一第二子检测区域,用于检测那里的任何光学障碍物;以及一阻塞信号,当任何光学障碍物侵入所述主检测区域、所述第一子检测区域和所述第二子检测区域中的至少一个的时候,指示被输出到所述外部装置的光束的的光阻塞。
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