[发明专利]蚀刻剂及其在提高蚀刻选择比上的应用有效

专利信息
申请号: 02127845.8 申请日: 2002-08-01
公开(公告)号: CN1472361A 公开(公告)日: 2004-02-04
发明(设计)人: 庄平;李鸿业;罗冠腾 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: C23F1/24 分类号: C23F1/24
代理公司: 上海专利商标事务所 代理人: 任永武
地址: 台湾省新竹科学工*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种蚀刻剂及其在提高蚀刻选择比(EtchingSelectivity)上的应用,此蚀刻剂至少包括磷酸(Phosphoric Acid;H3PO4)与可溶性硅(Si)化合物,例如含卤素的硅化合物或含卤素的硅化合物及其衍生物。此蚀刻剂应用在蚀刻氮化硅(SiN4)时,由于可溶性硅化合物与水产生水解反应,因此可有效提升氮化硅与氧化硅(SiO2)之间的蚀刻选择比。
搜索关键词: 蚀刻 及其 提高 选择 应用
【主权项】:
1.一种蚀刻剂,适用于蚀刻氮化硅其特征在于,该蚀刻剂至少包括:一磷酸;以及一含硅化合物掺入该磷酸中,其中该含硅化合物具有一浓度。
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