[发明专利]半导体存储器无效

专利信息
申请号: 02128265.X 申请日: 2002-08-07
公开(公告)号: CN1416137A 公开(公告)日: 2003-05-07
发明(设计)人: 松本淳子;山内忠昭;冈本武郎 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: G11C11/401 分类号: G11C11/401;G11C11/406
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 刘宗杰,王忠忠
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的课题是,使自更新模式时的消耗电流分散并降低消耗电流。根据更新请求(PHY)和更新地址(QAD)的特定的地址位(QAD或QAD),将更新阵列激活信号(RFACT)激活。利用更新地址计数器(19)的特定的低位的位(CN或CN)作为更新地址的特定的地址位,另外,通过将该特定的地址位作为更新地址的高位的位利用,自更新模式时能以等间隔对规定的地址区域进行更新,能使更新间隔长,能降低消耗电流。
搜索关键词: 半导体 存储器
【主权项】:
1.一种半导体存储器,该半导体存储器要求周期性地更新存储数据,其特征在于,备有:发生指定更新对象的存储单元的多位更新地址的更新地址发生电路;以及根据上述更新地址的特定地址位和更新请求,生成激活更新工作用的更新阵列激活信号的更新激活电路。
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