[发明专利]半导体集成电路装置无效

专利信息
申请号: 02129858.0 申请日: 2002-08-20
公开(公告)号: CN1411064A 公开(公告)日: 2003-04-16
发明(设计)人: 永田真也;渡边克吉;池本政彦 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H01L27/00 分类号: H01L27/00;G06F15/78;G06F13/36
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 马铁良,王忠忠
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 将半导体芯片分割成以焊磐围绕的第1半导体区域和焊磐外部的区域,将存储器配置于此焊磐外部区域。而且,将配置于这些第1半导体区域内的存储器和配置于焊磐外部的存储器,分别通过各自的存储器总线及选择器与总线接口部件耦合。用2相的相互相位没有不同的时钟信号驱动此选择器。提供即使针对记忆装置记忆容量的变更,也可以容易地应对,且不论总线接线长度的变更,可以高速地且低能耗地转送信号/数据的半导体集成电路装置。
搜索关键词: 半导体 集成电路 装置
【主权项】:
1.一种半导体集成电路装置,其具备配置包含处理装置的内部电路的第1半导体区域;配置至少存储上述处理装置使用的数据的第1记忆装置的第2半导体区域;配置于上述第1及第2半导体区域之间的焊磐。
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