[发明专利]用垂直结构的碳纳米管晶体管设计的单电子存储器及制法无效
申请号: | 02131272.9 | 申请日: | 2002-09-24 |
公开(公告)号: | CN1485915A | 公开(公告)日: | 2004-03-31 |
发明(设计)人: | 孙劲鹏;王太宏 | 申请(专利权)人: | 中国科学院物理研究所 |
主分类号: | H01L27/00 | 分类号: | H01L27/00;H01L21/82 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王凤华 |
地址: | 100080北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及用垂直结构的碳纳米管晶体管设计的单电子存储器及制法,包括:衬底,其上氧化形成二氧化硅绝缘层;在绝缘层上制备出一个垂直结构的碳纳米管晶体管,和设置一根半导体性的单壁碳纳米管,在其两侧制备出源极和漏极并与碳纳米管发生欧姆接触;在这根碳纳米管的上方制备出一个很薄的栅极绝缘层,其上设置这个碳纳米管晶体管的栅极;栅极一侧的栅极绝缘层上设置一条存储器的金属字线,金属字线和栅极通过一根金属性碳纳米管连接在一起,此碳纳米管上制备出至少两个隧穿结。该方法制备出的量子点可以在室温下出现库仑阻塞现象,因此器件可在室温下工作,通过测量碳纳米管晶体管的漏极电流可以实现存储器数据的读出。 | ||
搜索关键词: | 垂直 结构 纳米 晶体管 设计 电子 存储器 制法 | ||
【主权项】:
1.一种用垂直结构碳纳米晶体管设计的单电子存储器,包括:以硅作为衬底,其上氧化形成一个二氧化硅绝缘层;在绝缘层上制备出一个碳纳米管晶体管,它包括在二氧化硅绝缘层上设置一根单壁碳纳米管,在其两端制备出源极和漏极,并与该碳纳米管发生欧姆接触;其特征在于:在该碳纳米管、源极和漏极的上方的整个二氧化硅绝缘层上制备出一层栅极绝缘层,并在位于该碳纳米管的上方、源极和漏极之间的栅极绝缘层上设置碳纳米管晶体管的方形栅极;方形栅极相对应的一侧的栅极绝缘层上设置一存储器的金属字线,金属字线和方形栅极通过第二根碳纳米管欧姆接触连接在一起,其第二根碳纳米管设置方向与第一根碳纳米管方向垂直,第二根碳纳米管上存在至少两个隧穿结。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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