[发明专利]用垂直结构的碳纳米管晶体管设计的单电子存储器及制法无效

专利信息
申请号: 02131272.9 申请日: 2002-09-24
公开(公告)号: CN1485915A 公开(公告)日: 2004-03-31
发明(设计)人: 孙劲鹏;王太宏 申请(专利权)人: 中国科学院物理研究所
主分类号: H01L27/00 分类号: H01L27/00;H01L21/82
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 代理人: 王凤华
地址: 100080北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及用垂直结构的碳纳米管晶体管设计的单电子存储器及制法,包括:衬底,其上氧化形成二氧化硅绝缘层;在绝缘层上制备出一个垂直结构的碳纳米管晶体管,和设置一根半导体性的单壁碳纳米管,在其两侧制备出源极和漏极并与碳纳米管发生欧姆接触;在这根碳纳米管的上方制备出一个很薄的栅极绝缘层,其上设置这个碳纳米管晶体管的栅极;栅极一侧的栅极绝缘层上设置一条存储器的金属字线,金属字线和栅极通过一根金属性碳纳米管连接在一起,此碳纳米管上制备出至少两个隧穿结。该方法制备出的量子点可以在室温下出现库仑阻塞现象,因此器件可在室温下工作,通过测量碳纳米管晶体管的漏极电流可以实现存储器数据的读出。
搜索关键词: 垂直 结构 纳米 晶体管 设计 电子 存储器 制法
【主权项】:
1.一种用垂直结构碳纳米晶体管设计的单电子存储器,包括:以硅作为衬底,其上氧化形成一个二氧化硅绝缘层;在绝缘层上制备出一个碳纳米管晶体管,它包括在二氧化硅绝缘层上设置一根单壁碳纳米管,在其两端制备出源极和漏极,并与该碳纳米管发生欧姆接触;其特征在于:在该碳纳米管、源极和漏极的上方的整个二氧化硅绝缘层上制备出一层栅极绝缘层,并在位于该碳纳米管的上方、源极和漏极之间的栅极绝缘层上设置碳纳米管晶体管的方形栅极;方形栅极相对应的一侧的栅极绝缘层上设置一存储器的金属字线,金属字线和方形栅极通过第二根碳纳米管欧姆接触连接在一起,其第二根碳纳米管设置方向与第一根碳纳米管方向垂直,第二根碳纳米管上存在至少两个隧穿结。
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