[发明专利]一种折转光管光轴平行性的检验方法无效

专利信息
申请号: 02133208.8 申请日: 2002-10-15
公开(公告)号: CN1490593A 公开(公告)日: 2004-04-21
发明(设计)人: 叶露;李岷;马军 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01B11/27 分类号: G01B11/27;G02B27/30
代理公司: 长春科宇专利代理有限责任公司 代理人: 梁爱荣
地址: 130022吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明涉及用于瞄准系统中折转光管光轴平行性检验方法。本发明待测折转光管不存在平行误差时,入射光束经立方棱镜的b面反射的光束与自准直平行光管的光轴平行,此时自准直平行光管自准成像的位置与未放待测折转光管时的位置重合;当折转光管存在平行误差时,此时自准直平行光管自准成像的偏离量即为待测折转光管光轴的平行差。是利用五棱镜和立方棱镜是光学检验中常用的标准器件,使用它既经济又方便,且精度高,解决背景技术只适用于对较短的折转光管进行测量的问题。利用立方棱镜相邻表面相互正交的特点减少调整环节,易于调整、成本又低。本发明提供一种满足折转光管光轴平行性检验需要的方法,适用于任何尺寸折转光管光轴平行性的检验。
搜索关键词: 一种 折转 光轴 平行 检验 方法
【主权项】:
1、一种折转光管光轴平行性的检验方法,其特征在于:首先自准直平行光管发出的入射光束经五棱镜后垂直出射至立方棱镜的反射面(a),然后调整立方棱镜,使入射光束按原路返回五棱镜,再经自准直平行光管自准成像并读取此时的水平读数α0和高低读数λ0;将待测折转光管置于自准直平行光管与五棱镜和立方棱镜之间,使入射光束经待测折转光管和立方棱镜的反射面(b)后返回待测折转光管,再经自准直平行光管自准成像并读取此时的水平读数α和高低读数λ,则折转光管两光轴的平行差为:水平:Δα=α-α0,高低:Δλ=λ-λ0,即完成了折转光管光轴平行性的检验。
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