[发明专利]一种高分子PTC热敏电阻器的制造及热处理方法无效
申请号: | 02137202.0 | 申请日: | 2002-09-27 |
公开(公告)号: | CN1416140A | 公开(公告)日: | 2003-05-07 |
发明(设计)人: | 奉玉廷;候李明;王军;杨兆国 | 申请(专利权)人: | 上海维安热电材料股份有限公司 |
主分类号: | H01C7/02 | 分类号: | H01C7/02;H01C17/00 |
代理公司: | 上海东亚专利代理有限公司 | 代理人: | 董梅 |
地址: | 201206 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种高分子PTC热敏电阻器的制造及热处理方法,高分子PTC热敏电阻器芯材配料、成片过程中,在工艺冲片、辐照后,将芯片先置于高分子聚合物熔点以上40~80℃的加热设备中,4~6小时,然后迅速将其转移至-20℃~-60℃的冷冻设备中使其迅速冷却1~2小时。本发明通过采用合适的高低温相结合的热处理工艺,有效地改善了PTC热敏电阻器中结晶性高聚物的结晶形态,可使晶粒变得细小而均匀,并使PTC热敏电阻器中导电填料、无机非导电填料、各种助剂在高聚物的基体中分布得更加均匀,提高了PTC热敏电阻的内部组成的均匀性,使得其各种性能如室温电阻、耐流或耐压能力、耐流或耐压后的电阻变化率等更均一。提高了高分子PTC热敏电阻器性能的均匀性、一致性,进而提高了成品率。 | ||
搜索关键词: | 一种 高分子 ptc 热敏 电阻器 制造 热处理 方法 | ||
【主权项】:
1.一种高分子PTC热敏电阻器的制造及热处理方法,高分子PTC热敏电阻器芯材配料、成片及制成芯片的过程中,其特征在于在工艺冲片、辐照后,将芯片先置于高分子聚合物熔点以上40~80℃的加热设备中,4~6小时,然后迅速将其转移至-20℃~-60℃的冷冻设备中使其迅速冷却1~2小时。
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