[发明专利]自适应辐射测温技术无效
| 申请号： | 02138832.6 | 申请日： | 2002-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN1470855A | 公开（公告）日： | 2004-01-28 |
| 发明（设计）人： | 何民才 | 申请（专利权）人： | 何民才 |
| 主分类号： | G01J5/60 | 分类号： | G01J5/60 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 430072*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提出了一种自适应的辐射测温技术，通过用有效光电转换因子描述辐射测温公式和采用最小二乘法处理测温数据，可以测到复杂条件下各种温度被测辐射体的真实温度。发射系数，光路中间介质以及恶劣环境是造成辐射测温精度低的主要原因。自适应辐射测温技术能够消除这些影响测到辐射体表面的真实温度。 | ||
| 搜索关键词： | 自适应 辐射 测温 技术 | ||
【主权项】：
1.一种自适应辐射测温技术，采用有效光电转换因子这个参数和最小二乘法处理测温数据，能够得到复杂条件下被测辐射体真实温度的最佳估计值和测量误差；
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于何民才，未经何民才许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/02138832.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：反射式非接触红外体温探测器
- 下一篇：冻干过程中的压力测温方法
