[发明专利]利用等离子体化学气相沉积法沉积薄膜的方法有效

专利信息
申请号: 02141383.5 申请日: 2002-07-09
公开(公告)号: CN1467303A 公开(公告)日: 2004-01-14
发明(设计)人: 林辉巨 申请(专利权)人: 统宝光电股份有限公司
主分类号: C23C16/513 分类号: C23C16/513;H01L21/205;H01L21/365
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 王学强
地址: 台湾省新竹科学工业园*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种利用等离子体化学气相沉积法沉积薄膜的方法,于一等离子体化学气相沉积腔体中,以等离子体辅助化学反应,在基板上形成薄膜。然后,在取出基板后将清洁气体导入腔体中,以去除腔体内的附着物。随后,在下一批基板置入腔体前施行一预沉积制作工艺,以隔绝清洁过程的污染物。然后,施行一放电等离子体制作工艺,以降低预沉积薄膜表面累积电荷的数量。
搜索关键词: 利用 等离子体 化学 沉积 薄膜 方法
【主权项】:
1、一种利用等离子体化学气相沉积法沉积薄膜的方法,适于在放置于一腔体内的一基板上沉积一薄膜,其特征在于:其步骤包括:a.施行一等离子体化学气相沉积,以于该基板上形成该薄膜;b.将该基板从该腔体内取出;c.进行一清洁制作工艺;d.进行一预沉积制作工艺;e.施行一放电等离子体制作工艺;f.放入下一批基板;g.重复步骤a到f。
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