[发明专利]电荷粒子射线的射束轴调整装置和辐射装置有效

专利信息
申请号: 02141909.4 申请日: 2002-07-24
公开(公告)号: CN1398651A 公开(公告)日: 2003-02-26
发明(设计)人: 片冈昌治;立川敏树 申请(专利权)人: 住友重机械工业株式会社
主分类号: A61N5/10 分类号: A61N5/10
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 黄剑锋
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的课题在于以双重散射体入射方式、在较短时间获得精度良好的辐射剂量分布,即使在治疗的辐射过程中,仍可实时地对辐射剂量进行调整。通过下述射束轴调整装置(22)、保证射束轴的精度,并根据辐射剂量分布的平坦度监视器(20D)的测定结果、对第2散射体(20B)的位置进行细微调整,由此确保平坦的辐射剂量分布,该射束轴调整装置(22)包括设置于电荷粒子射线的射束输送系统中的射束位置检测器(26);设置于其进入侧的转向电磁铁(24X、24Y)或偏转电磁铁(27)。
搜索关键词: 电荷 粒子 射线 射束轴 调整 装置 辐射
【主权项】:
1.一种电荷粒子射线的射束轴调整装置,其特征在于该装置包括:射束位置检测器,其设置于电荷粒子射线的射束输送系统中;转向机构,其用于对应于该射束位置检测器的输出、调整射束轴的位置,该机构设置于该射束轴位置检测器的进入侧,其由可调整射束轴的位置的转向电磁铁或偏转电磁铁形成。
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