[发明专利]混合模拟组件的沟渠式电容器的制造方法无效
申请号: | 02142704.6 | 申请日: | 2002-09-18 |
公开(公告)号: | CN1484295A | 公开(公告)日: | 2004-03-24 |
发明(设计)人: | 高荣正 | 申请(专利权)人: | 上海宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L21/82 | 分类号: | H01L21/82 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 朱黎光 |
地址: | 201203上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明是揭露一种混合模拟组件的沟渠式电容器的制造方法,其是在一半导体基底内形成浅沟渠隔离区域用以隔绝组件主动区时,在复数个浅沟渠结构中依序形成下层电极的氮化钛层、介电层及上电极金属层,使其结合在一起而制作出沟渠式电容器结构。本发明是利用沟渠式电容器取代已知的立体结构电容器,以藉此增加电容器的表面积而不会影响后续制造工艺,进而达到增加沟渠式电容器的电容量的功效者。 | ||
搜索关键词: | 混合 模拟 组件 沟渠 电容器 制造 方法 | ||
【主权项】:
1、一种混合模拟组件的沟渠式电容器的制造方法,其特征是包括下列步骤:在一半导体基底中形成有一用以隔绝主、被动组件的第一浅沟渠隔离区域及一第二浅沟渠隔离区域,且在该第一浅沟渠隔离区域间是已形成栅极结构、源/汲极区域等半导体基本组件;形成一第一图案化光阻层于该半导体基底上,仅露出该第二浅沟渠隔离区域,以该第一图案化光阻层为屏蔽,去除该第二浅沟渠隔离区域内的氧化物而仅留下数浅沟渠;进行一离子布植步骤,在该浅沟渠周围的半导体基底中形成一导电层,完成后去除该第一图案化光阻层;进行自行对准金属硅化物的步骤,在该栅极结构、源/汲极区域及该浅沟渠表面是形成有金属硅化物,其上并覆盖有一氮化钛层,且该氮化钛层是作为下层电极;在该氮化钛层上依序形成一介电层及一上电极金属层;形成一第二图案化光阻层于该半导体基底上,以露出该第一浅沟渠隔离区域及其上的基本组件;以及以该第二图案化光阻层为屏蔽,去除露出的该上电极金属层、介电层及氮化钛层,使位于该沟渠中的该上电极金属层、介电层及氮化钛层形成一沟渠式电容器。
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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