[发明专利]混合模拟组件的沟渠式电容器的制造方法无效

专利信息
申请号: 02142704.6 申请日: 2002-09-18
公开(公告)号: CN1484295A 公开(公告)日: 2004-03-24
发明(设计)人: 高荣正 申请(专利权)人: 上海宏力半导体制造有限公司
主分类号: H01L21/82 分类号: H01L21/82
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 朱黎光
地址: 201203上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明是揭露一种混合模拟组件的沟渠式电容器的制造方法,其是在一半导体基底内形成浅沟渠隔离区域用以隔绝组件主动区时,在复数个浅沟渠结构中依序形成下层电极的氮化钛层、介电层及上电极金属层,使其结合在一起而制作出沟渠式电容器结构。本发明是利用沟渠式电容器取代已知的立体结构电容器,以藉此增加电容器的表面积而不会影响后续制造工艺,进而达到增加沟渠式电容器的电容量的功效者。
搜索关键词: 混合 模拟 组件 沟渠 电容器 制造 方法
【主权项】:
1、一种混合模拟组件的沟渠式电容器的制造方法,其特征是包括下列步骤:在一半导体基底中形成有一用以隔绝主、被动组件的第一浅沟渠隔离区域及一第二浅沟渠隔离区域,且在该第一浅沟渠隔离区域间是已形成栅极结构、源/汲极区域等半导体基本组件;形成一第一图案化光阻层于该半导体基底上,仅露出该第二浅沟渠隔离区域,以该第一图案化光阻层为屏蔽,去除该第二浅沟渠隔离区域内的氧化物而仅留下数浅沟渠;进行一离子布植步骤,在该浅沟渠周围的半导体基底中形成一导电层,完成后去除该第一图案化光阻层;进行自行对准金属硅化物的步骤,在该栅极结构、源/汲极区域及该浅沟渠表面是形成有金属硅化物,其上并覆盖有一氮化钛层,且该氮化钛层是作为下层电极;在该氮化钛层上依序形成一介电层及一上电极金属层;形成一第二图案化光阻层于该半导体基底上,以露出该第一浅沟渠隔离区域及其上的基本组件;以及以该第二图案化光阻层为屏蔽,去除露出的该上电极金属层、介电层及氮化钛层,使位于该沟渠中的该上电极金属层、介电层及氮化钛层形成一沟渠式电容器。
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