[发明专利]以多个导电体检知物体的方法及其装置有效
| 申请号： | 02143403.4 | 申请日： | 2002-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN1466034A | 公开（公告）日： | 2004-01-07 |
| 发明（设计）人： | 林招庆 | 申请（专利权）人： | 和创科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/02 | 分类号： | G06F3/02;H03K17/96 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 朱黎光 |
| 地址： | 台湾省桃*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种以多个导电体检知物体的方法，其中的物体可改变各导电体一项或多项特性，其特征是该装置包含：总电路耦合于该些导电体并处理各导电体，以确定其一项或多项特性；其方法包括对各导电体的处理确定其一项或多项特性，其中对该些导电体中至少一个的处理及至少另一个的处理，时间上重叠彼此相对偏移；导电体处理过程：一放电阶段Dn、一充电阶段Cn及一检知阶段Sn，放电阶段Dn是导电体对地放电，充电阶段Cn将预定量的电荷注入导电体，检知阶段Sn以一取样电路对导电体上电荷取样；处理时间为相对于前一导电体延迟一个阶段的时间段，每一阶段的时间段中，至多有一个导电体处于任一给定的阶段，每一阶段的电路可为不同导电体共享，而具实用性。 | ||
| 搜索关键词： | 导电 体检 物体 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
1、一种以多个导电体检知物体的方法，其中的物体可改变各导电体一项或多项特性，其特征是：该方法包括对各导电体的处理，以确定其一项或多项特性；其中对该些导电体中至少一个的处理，与对该些导电体中至少另一个的处理，于时间上重叠但彼此相对偏移。
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