[发明专利]非易失性半导体存储器有效

专利信息
申请号: 02143725.4 申请日: 2002-08-30
公开(公告)号: CN1404151A 公开(公告)日: 2003-03-19
发明(设计)人: 丹沢徹;梅沢明;高野芳德;志贺仁;渥美滋;田浦忠行 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: H01L27/10 分类号: H01L27/10;G11C11/34
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 付建军
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种非易失性半导体存储器,具有第1和第2非易失性存储片、读取用数据线以及写入校验用数据线、读取用传感放大器、写入校验用传感放大器、以及写入电路。上述各数据线设置在第1和第2非易失性存储片间的区域。分别选择性连接到第1非易失性存储片的位线和第2非易失性存储片的位线。上述读取用传感放大器连接到读取用数据线。写入校验用传感放大器和上述写入电路分别连接到写入校验用数据线。
搜索关键词: 非易失性 半导体 存储器
【主权项】:
1.一种非易失性半导体存储器,其特征在于具有:第1和第2非易失性存储片;设置在上述第1和第2非易失性存储片间的区域,分别与上述第1非易失性存储片的位线和上述第2非易失性存储片的位线选择性连接的读取用数据线以及写入校验用数据线,上述读取用数据线和写入校验用数据线在上述第1和第2非易失性存储片共有;与上述读取用数据线连接的读取用传感放大器;与上述写入校验用数据线连接的写入校验用传感放大器;以及与上述写入校验用数据线连接的写入电路。
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