[发明专利]半导体器件用电容器、其制造方法及采用它的电子器件无效

专利信息
申请号: 02147162.2 申请日: 2002-10-24
公开(公告)号: CN1441496A 公开(公告)日: 2003-09-10
发明(设计)人: 李正贤;闵约塞;曹永真 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/10 分类号: H01L27/10;H01L21/28
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 肖鹂,陈小雯
地址: 暂无信息 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开了一种半导体器件用电容器、其制造方法及采用它的电子器件。该电容器包括上部电极和下部电极,每个电极由铂族金属形成;设置在上部电极和下部电极之间的薄介电层;以及设置在下部电极和薄介电层之间的缓冲层,该缓冲层包括第3、4或13族的金属氧化物。
搜索关键词: 半导体器件 用电 容器 制造 方法 采用 电子器件
【主权项】:
1.一种半导体器件用电容器,该电容器包括:上部电极和下部电极,每个电极由铂族金属形成;设置在上部电极和下部电极之间的薄介电层;以及设置在下部电极和薄介电层之间的缓冲层,该缓冲层包括第3、4或13族的金属氧化物。
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