[发明专利]非易失性半导体存储器无效
申请号: | 02147327.7 | 申请日: | 2002-10-18 |
公开(公告)号: | CN1412853A | 公开(公告)日: | 2003-04-23 |
发明(设计)人: | 藤原英明 | 申请(专利权)人: | 三洋电机株式会社 |
主分类号: | H01L27/115 | 分类号: | H01L27/115 |
代理公司: | 上海专利商标事务所 | 代理人: | 沈昭坤 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供通过减少浮栅与控制的耦合比来增加扩散层与浮栅的耦合比,即使用低的扩散层电压也能够很容易进行高速写入的半导体存储器。该半导体存储器具有浮栅、与浮栅电容耦合并控制浮栅的电位用的第1扩散层、以及与浮栅相对配置的控制栅。而且,在进行删除动作时,从控制栅向浮栅流过隧道电流的方向是与半导体基板的主表面实质上平行的方向。这样,即使控制栅在浮栅的上方没有重叠区,也能够通过从浮栅拉出载流子而流过隧道电流。 | ||
搜索关键词: | 非易失性 半导体 存储器 | ||
【主权项】:
1.一种半导体存储器,其特征在于,具有浮栅、与所述浮栅电容耦合并控制所述浮栅的电位用的第1扩散层、以及与所述浮栅相对配置的控制栅,在进行删除动作时,从所述控制栅向所述浮栅流过隧道电流的方向是与半导体基板的主表面实质上平行的方向。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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