[发明专利]利用侦测磁通量校正相位的方法无效
申请号: | 02147370.6 | 申请日: | 2002-10-23 |
公开(公告)号: | CN1492211A | 公开(公告)日: | 2004-04-28 |
发明(设计)人: | 林东龙;柳至崇;詹森志 | 申请(专利权)人: | 明基电通股份有限公司 |
主分类号: | G01B7/31 | 分类号: | G01B7/31 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 陈小雯;肖鹂 |
地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种校正相位的方法,其利用侦测磁通量来校正一第一元件及一第二元件的相对应相位,其提供一磁通产生装置,用来提供磁通,另提供一磁感测装置,用来感应磁通量,并依据该磁感测装置侦测该磁通产生装置的磁通量来相对应地调整该第一元件及该第二元件,直到该磁感测装置感应的磁通量到达一预定值以使该第一元件与该第二元件的相位相吻合。 | ||
搜索关键词: | 利用 侦测 磁通量 校正 相位 方法 | ||
【主权项】:
1.一种利用侦测磁通量(Magnetic Flux)校正一第一元件与一第二元件相对应相位的方法,其包括:相对应的设置该第一元件与该第二元件;提供一磁通产生装置,用来在该第一元件与该第二元件间提供磁通;提供一磁感测装置,用来感应该第一元件与该第二元件间的磁通量;相对应地调整该第一元件与该第二元件,使得该磁感测装置侦测的磁通量达一预定值。
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