[发明专利]可记录存储介质的缺陷检测无效
| 申请号： | 02148226.8 | 申请日： | 2002-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN1409314A | 公开（公告）日： | 2003-04-09 |
| 发明（设计）人： | M·A·舒尔茨;S·林 | 申请（专利权）人： | 汤姆森许可公司 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 王岳,王忠忠 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种检测可记录光存储介质中的缺陷的方法(200)和系统(100)，并包括以下步骤获取(212)记录在可记录存储介质的第一部分上的多媒体数据片断；选择性的检测(214)该片断，以判断该第一部分是否存在缺陷；如果检测到缺陷，就执行纠正措施(222)，其中该纠正措施是从这样一组中选择出来的一个或多个纠正措施，该组包括产生一缺陷信息；将可记录存储介质的该第一部分的地址存储在一列表中；将多媒体数据片断写在可记录存储介质的第二部分上；或者改变该选择性检测步骤。 | ||
| 搜索关键词： | 记录 存储 介质 缺陷 检测 | ||
【主权项】：
1.一种检测可记录光存储介质中的缺陷的方法，包括以下步骤：获取记录在可记录存储介质的一部分上的多媒体数据片断(212)；选择性的检测该片断(214)，以判断该部分是否存在缺陷；如果检测到缺陷(216，YES)，就执行纠正措施(222)，其中该纠正措施是从这样一组中选择出来的一个或多个纠正措施，该组包括：产生一缺陷信息；将可记录存储介质的该部分的地址存储在一列表中；将多媒体数据片断写在可记录存储介质的一个新的部分上；改变该选择性检测步骤。
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