[发明专利]基于近景摄影测量的脑电电极空间定位方法无效
申请号: | 02148651.4 | 申请日: | 2002-11-15 |
公开(公告)号: | CN1405736A | 公开(公告)日: | 2003-03-26 |
发明(设计)人: | 高小榕;高上凯;杨福生 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G06T11/00 | 分类号: | G06T11/00;G06T15/00;G03B19/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100084 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 基于近景摄影测量的脑电电极空间定位方法属于三维空间定位技术领域。其特征在于它是在一个由戴有若干标定点的标定物、与标定物空间位置固定的电极帽、非量测摄影机、图像处理器和计算机构成的系统中,依次通过以下三个步骤来完成电极空间坐标测量的用图像识别方法(如灰度阈值方法)得出一组图像中的控制点(标定点和待测点)的二维坐标;由若干个标定点已知的图像中的二维坐标及其实际三维坐标用近景摄影测量中的共线方程逆向求解出相机在取景时的参数;由相机参数和图片上测量出的待测点,即电极的特征点的二维坐标计算出待测点的三维坐标。它具有测量精度高、速度快及环境适应性强的优点。 | ||
搜索关键词: | 基于 近景 摄影 测量 电极 空间 定位 方法 | ||
【主权项】:
1.基于近景摄影测量的脑电电极空间定位方法,含有近景摄影测量的步骤,其特征在于:它是一种采用非量测摄影机从不同的角度对戴有电极帽的测试者头部拍摄一组二维照片,再把上述二维照片经图像处理器后形成的多幅图像和拍摄时所用的标定点的坐标一起输入计算机以获得电极特征点的三维坐标的方法,即在一个由带有若干标记点即标定点(已知空间坐标值)的标定物、与标定物之间空间位置固定的作待测物体用的电极帽、非量测摄影机和量测设备组成的系统中,依以下步骤对脑电电极进行空间定位:(1)、依一定的移动方向、从不同角度用非量测摄影机对戴有电极帽的测试者头部去拍摄一组二维照片;(2)、把上述照片输入图像处理器,用图像识别方法(如公知的灰度阈值法)得出标定点和待测点的二维坐标;(3)由若干标定点利用近景测量方法中共线方程的逆问题方法,求出非量测摄影机拍照时的参数:其中所述共线方程为:x-x0=fa1(X-XS)+b1(Y-YS)+c1(Z-ZS)a2(X-XS)+b2(Y-YS)+c2(Z-ZS)z-z0=fa3(X-XS)+b3(Y-YS)+c3(Z-ZS)a2(X-XS)+b2(Y-YS)+c2(Z-ZS)其中设:地面坐标系为D-XYZ,摄影中心S在地面摄影坐标中的坐标是Xs,Ys,Zs;相片在该坐标系中的方位由三个角元素、ω、κ确定,像平面坐标系中y方向与焦距方向重合,垂直于x,y平面;成像物理点M(控制点,指上述标定点或待测点)、摄影中心S、成像点m(主点)成直线关系:在逆问题方法中,M是标定点,它的坐标(x,y)是从相片中测得的,实际坐标(X、Y、Z)已知,把若干个标定点构成方程组后,即可求出摄像机的下述参数:焦距f,相片像主点坐标(x0,z0)、角元素、ω、κ的相关参数a1、b1、c1、a2、b2、c2;(4)、根据步骤(2)得到的待测点即电极特征点的二维坐标和步骤(3)得到的摄影机参数,利用上述共线方程的正问题方法,即控制点是待测点时,在已知摄影机参数的条件下,利用两张或两张以上的相片相点坐标(x,y)即可求得待测点的三维坐标(X、Y、Z)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学,未经清华大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/02148651.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:改进的有机发光二极管器件封装
- 下一篇:防盗版CD唱片的制作方法